芯见半导体分析芯见半导体分析
XPS 表面成分与价态分析

XPS 表面成分与价态分析

仪器型号

赛默飞 Escalab Xi+

已预约

0 次

常规周期

4-6 个工作日

样品方式

需要寄样

满意度

100%

测试内容:全谱 + 高分辨窄谱(C/O/Si/金属元素),Ar 离子溅射深度剖析,价态拟合判定氧化物类型。 适用样品:焊盘可焊性不良、银迁移、镀层发黄、清洗残留等表面问题。 交付内容:全谱与窄谱图、元素定量表、深度剖析曲线与价态拟合结论。

发布需求